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其他物性检测仪器

X5000薄膜/纸张硅涂布量测试仪 光学涂布测厚仪

X5000薄膜/纸张硅涂布量测试仪  光学涂布测厚仪
X5000薄膜/纸张硅涂布量测试仪 光学涂布测厚仪
产品简介
1,Lab-X5000涂布量测厚仪利用X射线荧光分析可提高您的生产率,既省时间又降低成本
2,Lab-X5000 的设计满足各种场合对质量控制的要求,例如在实验室、工作现场或任何需要分析的地方。
3,Lab-X5000 是一款可靠且性价比高的X射线荧光分析仪,应用于造纸,不干胶等行业,精确测量硅涂布量。
4,Lab-X5000 型号优化了空气路径中的分析性能,不再需要任何外部气体
5,体积小而紧凑,可连续每天工作24小时,生产人员也能容易操作
6Lab-X5000涂布量测厚仪符合 ASTM D4294, ISO8754, ISO20847 IP336.

Lab-X5000涂布量测厚仪
使X射线荧光分析如此简单。
 
产品优势
1,基本无需样品制备
2,可直接分析液体和粉末样品
3,分析范围广,具有多元素分析能力
4,检出下限低
5,坚固耐用的设计可以应对任何恶劣环境
6,薄膜密封式键盘可防尘、防油、防溶剂等
7,无风扇设计减少环境中灰尘吸入
8,简易更换的二次安全窗口可在进行液体/粉末分析时,防止样品泄露损坏仪器
9,自动能量锁定功能,保证好的仪器稳定性
10,简单的一键操作
11,强大灵活的软件包,客户可自定义设置并开发新的分析方法
12,便捷的预编程仪器参数
13,元素定性分析或全定量分析
14,操作者无需更多的技术背景
15,快速、清晰地显示分析结果
16,高精确度的快速分析
17,Lab-X5000涂布量测厚仪拥有出色的稳定性
18,结果实时显示并更新
19,非实验室人员也可直接操作
20,分析结束自动打印结果
 
行业及市场
 - 离型膜,离型纸,格拉辛,不干胶,淋膜等硅油的涂布量测试
石油/石化 - 符合 ASTM D4294, ISO20847, ISO8754 IP336
木材处理 - 对于铜、铬及其他许多成分用液体和粉末来检测同样简单
矿物 - 铝土矿、石灰岩、高岭土等
化妆品 - 钛、锆等
水泥 - 检测 MgO Al2O3, SiO2, SO3, Cl, K2O, CaO Fe2O
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